テクトロニクス、ECOC 2018の展示会でデータセンタ・ネットワークに向けた最新の光テスト・ソリューションを展示
DPO70000SX
DPO70000SX

100G、400G規格の最新の光測定、PAM4テストのコストを抑える新しいソリューション

報道発表資料翻訳

2018年9月6日


[2018年9月4日] 英国ブラックネル発 - テクトロニクスは、ヨーロッパ最大の光通信の展示会であるECOC(European Conference on Optical Communication) 2018の展示会で、データセンタ向けに最新の光テスト・ソリューションを展示することを発表しました。業界大手の研究、設計のメーカから専門家を呼び、最新の光通信設計に関する技術トレンドと展望について話し合います。


EMEA(ヨーロッパ、中東、アフリカ地域)における光通信市場開発責任者のディーン・マイルス(Dean Miles)は、次のように述べています。「100Gは生産にのり400Gの設計も進んでいるなか、シリコンとシステム設計の両方における特性評価や検証、デバッグについては、ほとんど向上されていませんでした。ECOCの展示会では高速のデータ・レート、最新の規格、最先端の研究に対する障害を取り除き、製品の市場投入時間を短縮可能な当社の新しいソリューションを直接ご覧いただけます」


データセンタ・ネットワークの技術プロバイダは、常に容量の増加と高速データ転送の正確さを追求しています。テクトロニクスは、展示ブース(#219)において、以下に示す新しい専用アプリケーション・ソリューションを展示します。


PAM4の低コスト・テスト・ソリューションDSA8300型サンプリング・オシロスコープと80GHz光サンプリング・モジュールによる、NRZ、PAM4の高感度シングルモード/マルチモード光測定を含む、IEEE 802.3bsベースの400G光テスト・サポート。


PAM4の設計/デバッグ問題の詳細で迅速な解析DPO70000SXシリーズ70GHz ATIパフォーマンス・オシロスコープによる、400G規格のシングルショットPAM-4信号の解析と、ライブ・トリガ、イコライゼーション後のエラー検出。


複雑なコヒーレント・テストを容易に - AWG70000シリーズ任意波形ジェネレータ、DPO70000SXシリーズ・オシロスコープと、業界唯一の光変調解析ソフトウェアによる、空間分割多重などのアプリケーションにおけるマルチOMAシステムのエンドツーエンド・サポートのデモ。


最新規格 400G ZRのレシーバ・テスト - テクトロニクスDPO70000SXシリーズ 70GHz ATIパフォーマンス・オシロスコープによる400G ZRのレシーバ・テスト・サポート。


新しい革新技術センター - 最高周波数帯域8GHz、チャンネルごとのサンプル・レート25GS/s、最大レコード長250Mポイント、垂直分解能12ビットの新製品6シリーズMSO(ミックスド・ドメイン・オシロスコープ)など、受賞実績のある業界トップクラスのオシロスコープ、任意波形ジェネレータを展示。



ECOCは、光ファイバによる通信技術の業界のデシジョン・メーカが一堂に会する展示会です。20年以上も続くECOCは、世界中からの参加者があり、交流の場、学習の場、ビジネス・チャンスの場となっています。ECOC 2018は9月24~26日、イタリア、ローマで開催されます。展示会の詳細については、ウェブサイト(http://www.ecocexhibition.com)をご覧ください。



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